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OSUG - Terre Univers Environnement

Diffraction des rayons X

par Nathaniel FINDLING - 25 avril 2013 ( dernière mise à jour : 6 février 2017 )

Technique de caractérisation du solide, non destructive. Permettant l’identification et la quantification relative de phases cristallines.

Diffraction XSiemens D5000 et Bruker Axs D8
Cadre d’utilisation Appareil de l’équipe minéralogie accessible
Eléments analysés Caractérisation minéralogique ou structurale
Caractéristiques techniques Données techniques : Goniomètre équipé de porte échantillon tournant, capillaire, chambre à environnement contrôlé

Tubes Cobalt, Cuivre ou Molybdène

Goniomètres Tetha-tetha précision 0,002 degré

Détecteurs solXE et solX résolus en énergie
Types d’analyses possibles : Caracterisation, analyse quantitative par affinement rietveld, étude et modelisation de dépot orienté (Argiles)
Responsables de l’outil

Equipe associé

Responsable scientifique :
- Dr. Bruno Lanson

04 76 63 51 95

Responsable technique :

- Nathaniel Findling

04 76 51 40 78




Sous la tutelle de :

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